Knihy od autora J. Laszlo

Zobrazeno 1 – 2 z 2 výsledků

1. 

   Defect Complexes in Semiconductor Structures, 1

   J. Giber, F. Beleznay, I. C. Szep, J. Laszlo | Springer, Berlin, 1983

   
   

   Skladem u dodavatele v malém množství - Odesíláme za 12-15 dnů

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Brožovaná

   3313 Kč

   Koupit
2. 

   Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS III

   A. Benninghoven, J. Giber, J. Laszlo, M. Riedel, H. W. Werner | Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG, 2012

   
   

   Skladem u dodavatele v malém množství - Odesíláme za 12-15 dnů

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Brožovaná

   3313 Kč

   Koupit

Zboží můžete bez udání důvodů do měsíce vrátit. Zjistěte více